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同樣滿足國家執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn),為什么瑞凱的試驗(yàn)箱好些
根據(jù)有些技術(shù)指標(biāo)和各個(gè)版本的國家標(biāo)準(zhǔn)并不統(tǒng)一,溫度偏差這個(gè)指標(biāo),在不同版本的標(biāo)準(zhǔn)中,規(guī)定就相差懸殊。所以不同的廠家會(huì)根據(jù)自身的技術(shù)情況,選擇相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)。
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瑞凱儀器開展秋冬季節(jié)安全消防知識(shí)培訓(xùn)
為進(jìn)一步提高職工消防安全意識(shí),增強(qiáng)職工基本滅火技能和應(yīng)急火災(zāi)處置方式方法,11月5日,瑞凱儀器全體職工利用班前進(jìn)行了消防安全知識(shí)培訓(xùn),詳細(xì)講解了常用滅火器的適用范圍、日常巡查注意事項(xiàng),并現(xiàn)場(chǎng)演示日常滅火器材的使用方法。通過培訓(xùn)和實(shí)際操作進(jìn)一步提高了車間職工的消防安全意識(shí)及初始火災(zāi)的處置能力。
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IC芯片等產(chǎn)品高溫測(cè)試失效原因分析
該產(chǎn)品的高溫失效問題,與COB各材料都有著密切的關(guān)系: PCB、IC、邦定線、黑膠。但最主要的原因是在IC質(zhì)量有缺陷的前提下,由于黑膠、邦定線、PCB各部分的熱膨脹系數(shù)(CTE),在高溫條件下,黑膠可能拉動(dòng)邦定線,導(dǎo)致接觸不良使得IC功能喪失。
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半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中,半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)涉及到半導(dǎo)體分立器件。在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中,半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)涉及到半導(dǎo)體分立器件綜合、電力半導(dǎo)體器件、部件。國際電工委員會(huì),關(guān)于半導(dǎo)體 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)
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LED燈溫度循環(huán)試驗(yàn)測(cè)試方法
溫度循環(huán)試驗(yàn)應(yīng)按照 GB/T 2423.22-2012 的試驗(yàn) Nb: “規(guī)定變化速率的溫度變化”和下述規(guī)定 進(jìn)行。 試驗(yàn)應(yīng)在滿足 GB/T 2424.5—2006 要求的試驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行。試驗(yàn)溫度見表 1,溫度容差為士2 K。
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近日,瑞凱儀器連續(xù)接到大型高溫老化房的定制項(xiàng)目,四臺(tái)R-PCK-268800非標(biāo)大型高溫老化房經(jīng)過設(shè)計(jì)、組裝和調(diào)試,達(dá)到客戶滿意的標(biāo)準(zhǔn)。于昨日完成打包工作,今日正式出庫。 【更多詳情】
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