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半導(dǎo)體高溫儲存試驗(yàn)測試標(biāo)準(zhǔn)

文章出處：責(zé)任編輯：發(fā)布時間：2020-06-12 10:27:00 點(diǎn)擊數(shù)：- 【大 中 小】

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，半導(dǎo)體高溫儲存試驗(yàn)涉及到半導(dǎo)體分立器件。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，半導(dǎo)體高溫儲存試驗(yàn)涉及到半導(dǎo)體分立器件綜合、電力半導(dǎo)體器件、部件。
國際電工委員會，關(guān)于半導(dǎo)體高溫儲存試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60749-6-2017 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第6部分:高溫下儲存
IEC 60749-6-2017 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第6部分:高溫下儲存
IEC 60749-6 Corrigendum 1-2003 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第6部分:高溫下儲存
IEC 60749-6-2002 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第6部分:高溫下儲存
韓國標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于半導(dǎo)體高溫儲存試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)
KS C IEC 60749-6-2004 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第6部分:高溫下儲存
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于半導(dǎo)體高溫儲存試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)
DIN EN 60749-6-2003 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第6部分:高溫儲存
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于半導(dǎo)體高溫儲存試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)
NF C96-022-6-2002 半導(dǎo)體裝置.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第6部分:高溫下儲存
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于半導(dǎo)體高溫儲存試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)
BS EN 60749-6-2002 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.高溫下儲存
歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)化委員會，關(guān)于半導(dǎo)體高溫儲存試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)
EN 60749-6-2002 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第6部分:高溫下儲存部分替代EN 60749-1999+A1-2000+A2-2001;IEC 60749-6-2002

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